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ePaper created 2017-07-20, 09:21:57 | version 1.38.0
COSMETIC & IMPLANTS 技术与应用 其表面形态的特点，分析钛及钛合金 种植体表面可能存在的污染。 材料与方法 在 来 自 9 5 家 制 造 商 的 1 3 5 种 种 植体中，一部分是一段式种植体， 正是本研究的重点。所有种植体均 采用不同的研究技术进行分析：扫 描电子显微镜（SEM）进行表面分 析，背散色电子显像（BSE）可以获 知表面不同残留物和污染物的化学 本质（密度）。原子序数小于钛的 物质（因此，电子背散射更少）在 材料对比照片中显得更暗（图1）。 种植体表面的定性和定量分析，即 能谱分析（EDX），利用样本所发 射 的 X 线 来 确 定 其 成 分 构 成 。 种 植 图10：定性元素面积分析，×2,500。 体固定于样本固定架上，进行大范 图11：CO-XG（PHOENIX）钛植体螺 图12：CO-XG（PHOENIX）钛植体，× 围扫描，包括种植体表面约三分之 一 的 面 积 ， 扫 描 视 角 约 1 2 0 度 （ 图 1）。每颗种植体进行表面分析和一 处或多处点分析。 结果 M D I 种 植 体 （ 3 M E S P E ） 和 ANEW种植体（Dentatus）显示出大 量均质分布的氧化铝颗粒，是喷砂 过程的残留物。材料对比照片中可 纹部分，×500。 2,500。 图13：CO-XG（PHOENIX）钛植体颈 图14：大量有机物污染，×1000。 见这些氧化铝颗粒较钛表面更暗， 部，×500。 见图 2 - 3和图 5 - 6。 M D I样本有机颗 粒残留较少（10-50μm），一部分 与 嵌 入 表 面 的 铁 和 铬 的 金 属 颗 粒 （500nm）结合。ANEW种植体样本 有三种有机颗粒（30-40μm），同时 检测到硅（6-8μm）。 R O O T T 种 植 体 （ T R AT E ） 是 所检测的一段式种植体中唯一未检 出有机和无机物残留的种植体（图 表1：定量元素分析（五级钛） 元素 Ti Al V 表2：定量元素分析（五级钛） 元素 Ti Al V 百分比 1. % 46. % 2.1 % 百分比 70.2 % 26.6% .2% 含量 1.00 0.99 0.96 含量 1.00 0.99 0.97 cosmetic & implants 4/2016 17