Please activate JavaScript!
Please install Adobe Flash Player, click here for download
ePaper created 2016-06-23, 09:34:33 | version 1.38.0
44 1_2016 cosmetic 44 cosmetic_badania zębów, otrzymano dla pasty PearlWhite Sensitive oraz Advanced. Analizując przebiegi krzywych (Ryc. 2 i 3) uzy- skanych z zależności wartości kąta fazowego do częstotliwości, można wnioskować, że zmiany mor- fologii szkliwa zębów najpóźniej występują pod- czas szczotkowania z użyciem pasty Pearl White Advanced, o czym świadczy zanik stałej czasowej. Potencjał stacjonarny to podstawowy pa- rametr mierzony w warunkach bezprądowych, będący rezultatem zmian topografii szkliwa ludz- kich zębów. Wyższe wartości potencjału stacjo- narnego świadczą o naruszeniu warstwy szkliwa zębów. W badaniach potencjału stacjonarnego zębów poddanychszczotkowaniuz użyciemróżnychpast wybielających, jako przeciwelektrodę użyto elek- trodę platynową, a potencjał stacjonarny (Estac) odniesiono do elektrody chlorosrebrowej Ag/AgCl (EAg/AgCl = 0,222 V). Pomiary wykonano w roz- tworze sztucznej śliny (0,01 M, pH 7,4) w czasie 1800 s i temperaturze 25±2° C. Zarejestrowane wyniki potencjału stacjo- narnego potwierdzają wcześniejsze wnioski. Najszybsze (po 10 dniach) zmiany w wartościach potencjału stacjonarnego (wzrost) zauważa się w badaniu wpływu pasty znanej marki na szkli- wo zęba, co oznacza niszczenie powierzchni szkliwa. Wyniki te dla past PearlWhite Sensitive (po upływie 45 dni) oraz PearlWhite Advanced (po upływie 45 dni) jest zdecydowanie lepszy. Badania mikroskopowe Za pomocą Mikroskopii Sił Atomowych (AFM – atomic force microscope) wykonano zdjęcia powierzchni szkliwa zębów poddanych szczotko- waniu pastą PearlWhite Advanced oraz Sensitive przez okres 3 miesięcy, uwzględniając dwukrotne szczotkowanie w ciągu dnia. Uzyskane na mikroskopie AFM zdjęcia po- wierzchni szkliwa zębów poddanych szczotkowa- Ryc. 5_Skaningowy mikroskop elektronowy JEOL 7600F (www. zib.uz.zgora.pl). Ryc. 4_Zdjęcie powierzchni szkliwa zęba poddanego szczotkowaniu pastą Pearl White z formułą Sensitivity uzyskane za pomocą mikroskopu AFM. Ryc. 4 Ryc. 5